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https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000803609| Sustentante: | Albor Ramírez, Efraín |
| Asesor(es) : | Garduño Ángeles, Edgar Vaca Domínguez, Luis Alfonso |
| Título : | Rastreo de partículas en imágenes de microscopía de luz reflejada |
| Fecha de publicación : | 2020 |
| Páginas: | 1 recurso en línea (74 páginas) : |
| Formato: | application/pdf |
| Medio: | computadora |
| Soporte: | recurso en línea |
| Grado : | Maestría en Ingeniería (Ingeniería Eléctrica) |
| Escuela o Facultad : | Programa de Posgrado en Ingeniería Facultad de Ingeniería |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000803609 |
| Fuente TESIUNAM: | http://132.248.9.195/ptd2020/septiembre/0803609/Index.html |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de maestría |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 000803609.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.5 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
| 0803609.pdf | Texto Completo | 4.13 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
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