1. Repositorio de Tesis DGBSDI
  2. TESIUNAM
  3. Tesis de maestría
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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.advisorGarduño Ángeles, Edgar
dc.contributor.advisorVaca Domínguez, Luis Alfonso
dc.creatorAlbor Ramírez, Efraín
dc.date.created2020-09-21T00:00:00-
dc.date.issued2020
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000803609-
dc.format.extent1 recurso en línea (74 páginas)-
dc.format.mediumcomputadora
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.languagespa-
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.source.urihttps://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000803609
dc.subject.classificationCiencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías
dc.titleRastreo de partículas en imágenes de microscopía de luz reflejada
dc.typeTesis de maestría
dcterms.contributorGarduño Ángeles, Edgar::si::SinIdentificador::role::asesorTesis-
dcterms.contributorVaca Domínguez, Luis Alfonso::si::SinIdentificador::role::asesorTesis-
dcterms.creatorAlbor Ramírez, Efraín::si::SinIdentificador
dc.degree.nameMaestría en Ingeniería (Ingeniería Eléctrica)
dc.degree.grantorUniversidad Nacional Autónoma de México
dc.identifier.urlhttp://132.248.9.195/ptd2020/septiembre/0803609/Index.html
dc.format.supportrecurso en línea
dc.degree.departmentPrograma de Posgrado en Ingeniería
dc.degree.departmentFacultad de Ingeniería
dc.degree.levelMaestría
dc.rights.accessrightsAcceso en línea sin restricciones
dc.type.versionpublishedVersion
dc.publisher.locationMX
dc.date.modified2023-11-25T00:00:00-
Aparece en las colecciones: Tesis de maestría

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