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https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000709844| Sustentante: | Aguilar Melo, Valentina |
| Asesor(es) : | Ruvalcaba Sil, José Luis Bucio, L. Chávez Carvayar, José Álvaro |
| Título : | Desarrollo y aplicación de difracción y fluorescencia de rayos X in situ para la caracterización de materiales |
| Fecha de publicación : | 2014 |
| Páginas: | 1 recurso en línea (120 páginas) |
| Formato: | application/pdf |
| Medio: | computadora |
| Soporte: | recurso en línea |
| Grado : | Maestría en Ciencia e Ingeniería de Materiales |
| Escuela o Facultad : | Programa de Maestría y Doctorado en Ciencia e Ingeniería de Materiales |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Palabras clave : | Rayos X |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000709844 |
| Fuente TESIUNAM: | https://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000709844 |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de maestría |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 000709844.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.57 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
| 0709844.pdf | Texto Completo | 7.92 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
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