1. Repositorio de Tesis DGBSDI
  2. TESIUNAM
  3. Tesis de maestría
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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.advisorRuvalcaba Sil, José Luis-
dc.contributor.advisorBucio, L.-
dc.contributor.advisorChávez Carvayar, José Álvaro-
dc.creatorAguilar Melo, Valentina
dc.date.created2014-03-04T00:00:00-
dc.date.issued2014
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000709844-
dc.format.extent1 recurso en línea (120 páginas)
dc.format.mediumcomputadora
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.languagespa-
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0-
dc.source.urihttps://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000709844
dc.subjectRayos X
dc.subject.classificationCiencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías
dc.titleDesarrollo y aplicación de difracción y fluorescencia de rayos X in situ para la caracterización de materiales
dc.typeTesis de maestría
dcterms.contributorRuvalcaba Sil, José Luis::si::SinIdentificador::role::asesorTesis
dcterms.contributorBucio, L.::si::SinIdentificador::role::asesorTesis
dcterms.contributorChávez Carvayar, José Álvaro::si::SinIdentificador::role::asesorTesis
dcterms.creatorAguilar Melo, Valentina::si::SinIdentificador
dc.degree.nameMaestría en Ciencia e Ingeniería de Materiales
dc.degree.grantorUniversidad Nacional Autónoma de México
dc.identifier.urlhttp://132.248.9.195/ptd2014/marzo/0709844/Index.html
dc.format.supportrecurso en línea
dc.degree.departmentPrograma de Maestría y Doctorado en Ciencia e Ingeniería de Materiales-
dc.degree.levelMaestría
dc.rights.accessrightsAcceso en línea sin restricciones
dc.type.versionpublishedVersion
dc.publisher.locationMX
dc.date.modified2023-11-25T00:00:00-
Aparece en las colecciones: Tesis de maestría

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