Use el DOI o este identificador para enlazar este recurso: https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000849313
Sustentante: Martínez Lara, David Eduardo
Asesor(es) : Mendoza López, Doroteo
Colaborador(es) : Morales Leal, Francisco, miembro del comité de grado
Esquivel Sirvent, Raúl Patricio, miembro del comité de grado
Título : Resonancias plasmónicas y resistividad eléctrica de metapelículas de Bi : búsqueda del grosor crítico para el confinamiento cuántico en películas delgadas
Fecha de publicación : 2023
Páginas: 1 recurso en línea (145 páginas)
Formato: application/pdf
Medio: computadora
Soporte: recurso en línea
Grado : Doctorado en Ciencias e Ingeniería de Materiales
Escuela o Facultad : Programa de Posgrado en Ciencia e Ingeniería de Materiales
Instituto de Investigaciones en Materiales
Institución : Universidad Nacional Autónoma de México
Area del conocimiento : Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías
URI : https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000849313
Fuente TESIUNAM: https://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000849313
Aparece en las colecciones: Tesis de doctorado

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