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https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000790310| Sustentante: | Aguilar Melo, Valentina |
| Asesor(es) : | Ruvalcaba Sil, José Luis Bucio, L. Rivera Muñoz, Eric Mauricio |
| Título : | Caracterización de materiales in situ por difracción y fluorescencia de rayos X |
| Fecha de publicación : | 2019 |
| Páginas: | 1 recurso en línea (130 páginas) : |
| Formato: | application/pdf |
| Medio: | computadora |
| Soporte: | recurso en línea |
| Grado : | Doctorado en Ciencias e Ingeniería de Materiales |
| Escuela o Facultad : | Programa de Maestría y Doctorado en Ciencia e Ingeniería de Materiales Instituto de Investigaciones en Materiales |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000790310 |
| Fuente TESIUNAM: | http://132.248.9.195/ptd2019/junio/0790310/Index.html |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de doctorado |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 000790310.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.7 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
| 0790310.pdf | Texto Completo | 4.83 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
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