1. Repositorio de Tesis DGBSDI
  2. TESIUNAM
  3. Tesis de doctorado
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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.advisorRuvalcaba Sil, José Luis
dc.contributor.advisorBucio, L.
dc.contributor.advisorRivera Muñoz, Eric Mauricio
dc.creatorAguilar Melo, Valentina
dc.date.issued2019
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000790310-
dc.format.extent1 recurso en línea (130 páginas) :
dc.format.mediumcomputadora
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isospa
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.source.urihttps://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000790310
dc.subject.classificationCiencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías
dc.titleCaracterización de materiales in situ por difracción y fluorescencia de rayos X
dc.typeTesis de doctorado
dcterms.contributorRuvalcaba Sil, José Luis::si::SinIdentificador::role::asesorTesis
dcterms.contributorBucio, L.::si::SinIdentificador::role::asesorTesis
dcterms.contributorRivera Muñoz, Eric Mauricio::si::SinIdentificador::role::asesorTesis
dcterms.creatorAguilar Melo, Valentina::si::SinIdentificador
dc.degree.nameDoctorado en Ciencias e Ingeniería de Materiales
dc.degree.grantorUniversidad Nacional Autónoma de México
dc.identifier.urlhttp://132.248.9.195/ptd2019/junio/0790310/Index.html
dc.format.supportrecurso en línea
dc.degree.departmentPrograma de Maestría y Doctorado en Ciencia e Ingeniería de Materiales
dc.degree.departmentInstituto de Investigaciones en Materiales
dc.degree.levelDoctorado
dc.rights.accessrightsAcceso en línea sin restricciones
dc.type.versionpublishedVersion
dc.publisher.locationMX
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