1. Repositorio de Tesis DGBSDI
  2. TESIUNAM
  3. Tesis de licenciatura
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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.advisorRamírez Chavarría, Roberto Giovanni-
dc.creatorLozano Herrera, Tonantzin-
dc.date.created2023-02-15T00:00:00-
dc.date.issued2023-
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000835406-
dc.format.extent1 recurso en línea (173 páginas)-
dc.format.mediumcomputadora-
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.languagespa-
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0-
dc.source.urihttps://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000835406
dc.subject.classificationCiencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías-
dc.titleMedición de alta resolución y sensibilidad para sensores resistivos : instrumentación y aplicaciones-
dc.typeTesis de licenciatura-
dcterms.contributorRamírez Chavarría, Roberto Giovanni::si::SinIdentificador::role::asesorTesis-
dcterms.creatorLozano Herrera, Tonantzin::si::SinIdentificador-
dc.degree.nameIngeniero Eléctrico Electrónico-
dc.degree.grantorUniversidad Nacional Autónoma de México-
dc.identifier.urlhttp://132.248.9.195/ptd2023/febrero/0835406/Index.html-
dc.format.supportrecurso en línea-
dc.degree.departmentFacultad de Ingeniería-
dc.degree.levelLicenciatura-
dc.rights.accessrightsAcceso en línea sin restricciones-
dc.type.versionpublishedVersion-
dc.publisher.locationMX-
dc.date.modified2023-11-25T00:00:00-
Aparece en las colecciones: Tesis de licenciatura

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