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https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000782795| Sustentante: | Jiménez Barón, Rafael Alejandro |
| Asesor(es) : | Rodríguez Fernández, Luis |
| Título : | Caracterización por XRD, RBS, SEM y lonoluminiscencia de películas delgadas de ZnO y CuOx formadas a partir de la oxidación de Zn y Cu por procesos térmicos |
| Fecha de publicación : | 2018 |
| Páginas: | 1 recurso en línea (81 páginas) |
| Formato: | application/pdf |
| Medio: | computadora |
| Soporte: | recurso en línea |
| Grado : | Licenciatura en Física |
| Escuela o Facultad : | Facultad de Ciencias |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000782795 |
| Fuente TESIUNAM: | https://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000782795 |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de licenciatura |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 000782795.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.33 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
| 0782795.pdf | Texto Completo | 4.6 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
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