Use el DOI o este identificador para enlazar este recurso:
https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000729402| Sustentante: | Fajardo Peralta, Alejandro |
| Asesor(es) : | Hirata Flores, Gustavo Alonso |
| Título : | Síntesis y caracterización de películas delgadas de NiO y TiO2 crecidas por el método de ablación láser |
| Fecha de publicación : | 2015 |
| Páginas: | 1 recurso en línea (173 páginas) |
| Formato: | application/pdf |
| Medio: | computadora |
| Soporte: | recurso en línea |
| Grado : | Maestría en Ciencia e Ingeniería de Materiales |
| Escuela o Facultad : | Programa de Maestría y Doctorado en Ciencia e Ingeniería de Materiales |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000729402 |
| Fuente TESIUNAM: | https://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000729402 |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de maestría |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 000729402.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.44 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
| 0729402.pdf | Texto Completo | 3.91 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
Este recurso está sujeto a una Licencia Creative Commons
