Use el DOI o este identificador para enlazar este recurso: https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000729402
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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.advisorHirata Flores, Gustavo Alonso
dc.creatorFajardo Peralta, Alejandro
dc.date.created2015-05-12T00:00:00-
dc.date.issued2015
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000729402-
dc.format.extent1 recurso en línea (173 páginas)-
dc.format.mediumcomputadora
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.languagespa-
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.source.urihttps://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000729402
dc.subject.classificationCiencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías
dc.titleSíntesis y caracterización de películas delgadas de NiO y TiO2 crecidas por el método de ablación láser
dc.typeTesis de maestría
dcterms.contributorHirata Flores, Gustavo Alonso::si::SinIdentificador::role::asesorTesis
dcterms.creatorFajardo Peralta, Alejandro::si::SinIdentificador
dc.degree.nameMaestría en Ciencia e Ingeniería de Materiales
dc.degree.grantorUniversidad Nacional Autónoma de México
dc.identifier.urlhttp://132.248.9.195/ptd2015/mayo/0729402/Index.html
dc.format.supportrecurso en línea
dc.degree.departmentPrograma de Maestría y Doctorado en Ciencia e Ingeniería de Materiales-
dc.degree.levelMaestría
dc.rights.accessrightsAcceso en línea sin restricciones
dc.type.versionpublishedVersion
dc.publisher.locationMX
dc.date.modified2023-11-25T00:00:00-
Aparece en las colecciones: Tesis de maestría

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