Use el DOI o este identificador para enlazar este recurso:
https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000663379| Clasificación : | 001-01131-R5-2010 |
| Sustentante: | Ramírez Miguel, Nely |
| Asesor(es) : | Arango Galván, Claudia |
| Título : | Caracterización de fallas y fracturas mediante tomografía eléctrica utilizando electrodos de acoplamiento capacitivo |
| Fecha de publicación : | 2010 |
| Páginas: | 1 recurso en línea (v,73 páginas) |
| Formato: | application/pdf |
| Medio: | computadora |
| Soporte: | recurso en línea |
| Grado : | Ingeniero Geofísico |
| Escuela o Facultad : | Facultad de Ingeniería |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Palabras clave : | Tomografía |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000663379 |
| Fuente TESIUNAM: | https://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000663379 |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de licenciatura |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 000663379.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.21 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
| 0663379_A1.pdf | Texto Completo | 3.16 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
Este recurso está sujeto a una Licencia Creative Commons
