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https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000850208| Sustentante: | Osorio Tascón, Juan Camilo |
| Asesor(es) : | García Valenzuela, Augusto |
| Colaborador(es) : | Garduño Mejía, Jesús (miembro del comité de grado) Reyes Coronado, Alejandro (miembro del comité de grado) |
| Título : | Reflectancia interna de luz difusa para el monitoreo de procesos en superficie y películas delgadas |
| Fecha de publicación : | 2023 |
| Páginas: | 1 recurso en línea (58 páginas) |
| Formato: | application/pdf |
| Medio: | computadora |
| Soporte: | recurso en línea |
| Grado : | Maestría en Ciencias (Física) |
| Escuela o Facultad : | Programa de Posgrado en Ciencias Físicas Centro de Ciencias Aplicadas y Desarrollo Tecnológico |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000850208 |
| Fuente TESIUNAM: | https://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000850208 |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de maestría |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 000850208.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.73 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
| 0850208.pdf | Texto Completo | 7.71 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
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