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https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000840276| Sustentante: | Luna Hernández, Ximena |
| Asesor(es) : | Medina Tanco, Gustavo Adolfo |
| Título : | Análisis de confiabilidad para el prototipo de la memoria Nor-Flash, para pruebas de radiación |
| Fecha de publicación : | 2019 |
| Páginas: | 1 recurso en línea (56 páginas) |
| Formato: | application/pdf |
| Medio: | computadora |
| Soporte: | recurso en línea |
| Grado : | Licenciatura en Actuaría |
| Escuela o Facultad : | Facultad de Ciencias |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000840276 |
| Fuente TESIUNAM: | https://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000840276 |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de licenciatura |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 000840276.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.19 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
| 0840276.pdf | Texto Completo | 2.13 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
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