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https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000132642| Clasificación : | 001-01126-S3-1976-128 |
| Sustentante: | Sanchez Arias, Victor German Sánchez Esquivel, Víctor Manuel Rodriguez Vazquez, Alberto Josafat |
| Asesor(es) : | Gil Mendieta, Jorge |
| Título : | Probador de memorias de semiconductor |
| Fecha de publicación : | 1976 |
| Páginas: | 151 páginas |
| Medio: | microform |
| Soporte: | microfilm roll |
| Grado : | Ingeniero Mecánico Electricista |
| Escuela o Facultad : | Facultad de Ingeniería |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000132642 |
| Fuente TESIUNAM: | https://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000132642 |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de licenciatura |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
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| 000132642.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.04 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
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