Use el DOI o este identificador para enlazar este recurso: https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000067892
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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.advisorOliver Gutierrez, Alicia
dc.creatorRodríguez Fernández, Luis
dc.date.created2005-03-22T00:00:00-
dc.date.issued1988
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000067892-
dc.format.extent1 recurso en línea (103 páginas)
dc.format.mediumcomputadora
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.languagespa-
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.source.urihttps://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000067892
dc.subject.classificationCiencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías
dc.titleComparacion de los metodos de análisis PIXE y RBS en medicion de espesores de peliculas delgadas a bajas energias
dc.typeTesis de licenciatura
dcterms.contributorOliver Gutierrez, Alicia::si::SinIdentificador::role::asesorTesis
dcterms.creatorRodríguez Fernández, Luis::si::SinIdentificador
dc.degree.nameLicenciatura en Física
dc.degree.grantorUniversidad Nacional Autónoma de México
dc.identifier.urlhttp://132.248.9.195/pmig2017/0067892/Index.html
dc.format.supportrecurso en línea
dc.degree.departmentFacultad de Ciencias
dc.identifier.classification001-00323-R2-1988-3
dc.degree.levelLicenciatura
dc.rights.accessrightsAcceso en línea sin restricciones
dc.type.versionpublishedVersion
dc.publisher.locationMX
dc.date.modified2023-11-25T00:00:00-
Aparece en las colecciones: Tesis de licenciatura

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