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https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000045337| Clasificación : | 001-00323-B2-1987-1 |
| Sustentante: | Beltrán Sánchez, Marcela Regina |
| Asesor(es) : | Tagüeña, Julia |
| Título : | Estudio de impurezas en la interfaz de silicio cristalino y oxido de silicio amorfo |
| Fecha de publicación : | 1987 |
| Páginas: | 1 recurso en línea (181 páginas) |
| Formato: | application/pdf |
| Medio: | computadora |
| Soporte: | recurso en línea |
| Grado : | Licenciatura en Física |
| Escuela o Facultad : | Facultad de Ciencias |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000045337 |
| Fuente TESIUNAM: | https://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000045337 |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de licenciatura |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 000045337.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.17 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
| 0045337.pdf | Texto Completo | 10.34 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
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