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TESIUNAM
Tesis de licenciatura
Difraccion de rayos X por el metodo de Debije-Scherrer para detectar cambios dimensionales pequeños en la celda unidad de los cristales
Difraccion de rayos X por el metodo de Debije-Scherrer para detectar cambios dimensionales pequeños en la celda unidad de los cristales
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Archivos
0153018.pdf
(6.83 MB)
Fecha de publicación
1991
Autores
Millán Malo, Beatriz Marcela
Asesores
Cordero Borboa, Adolfo E.
Título de la revista
ISSN de la revista
Título del volumen
Editor
Colecciones
Tesis de licenciatura
Resumen
Descripción
Institución
Universidad Nacional Autónoma de México
Escuela o Facultad
Facultad de Ciencias
Área del conocimiento
Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías
Título o grado
Licenciatura en Física
Palabras clave
Rayos X
Citación
Fuente
TESIUNAM
URI
https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000153018
Aprobación
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