Analisis de la estructura y composicion de peliculas delgadas de SiOF mediante FTIR, XPS y RNR

Archivos

0617430.pdf (1.32 MB)

Fecha de publicación

Autores

Díaz Bucio, Xochitl Monica

Asesores

Alonso Huitrón, Juan Carlos

Colecciones

Tesis de maestría

Institución

Universidad Nacional Autónoma de México

Escuela o Facultad

Instituto de Investigaciones en Materiales

Área del conocimiento

Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías

Título o grado

Maestría en Ciencia e Ingeniería de Materiales

Fuente

URI

https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000617430

Página completa del ítem