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https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000754246| Sustentante: | Salas Gamez, Gerardo |
| Asesor(es) : | García Macedo, Jorge Alfonso |
| Título : | Estudio del índice de refracción no lineal y coeficiente de absorción de tercer orden en películas amorfas de SiO2:DR1 y mesoestructuradas de SiO2/CTAB:DR1 mediante la técnica Z-scan en función de la potencia de excitación |
| Fecha de publicación : | 2017 |
| Páginas: | 1 recurso en línea (76 páginas) |
| Formato: | application/pdf |
| Medio: | computadora |
| Soporte: | recurso en línea |
| Grado : | Licenciatura en Física |
| Escuela o Facultad : | Facultad de Ciencias |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000754246 |
| Fuente TESIUNAM: | https://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000754246 |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de licenciatura |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 000754246.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.39 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
| 0754246.pdf | Texto Completo | 2 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
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