Use el DOI o este identificador para enlazar este recurso:
https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000617430| Clasificación : | 001-00347-D1-2007 |
| Sustentante: | Díaz Bucio, Xochitl Monica |
| Asesor(es) : | Alonso Huitrón, Juan Carlos |
| Título : | Analisis de la estructura y composicion de peliculas delgadas de SiOF mediante FTIR, XPS y RNR |
| Fecha de publicación : | 2007 |
| Páginas: | 1 recurso en línea (89 páginas) : |
| Formato: | application/pdf |
| Medio: | computadora |
| Soporte: | recurso en línea |
| Grado : | Maestría en Ciencia e Ingeniería de Materiales |
| Escuela o Facultad : | Instituto de Investigaciones en Materiales |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000617430 |
| Fuente TESIUNAM: | http://132.248.9.195/pd2007/0617430/Index.html |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de maestría |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 000617430.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.45 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
| 0617430.pdf | Texto Completo | 1.35 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
Este recurso está sujeto a una Licencia Creative Commons
