Use el DOI o este identificador para enlazar este recurso:
https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000308442
Clasificación : | 001-00323-A3-2002-1 |
Sustentante: | Álvarez Zauco, Edgar |
Asesor(es) : | Álvarez Fragoso, Octavio |
Título : | Aplicacion de la microscopia de fuerza atomica de barrido electronico, de dispersion electronica y de transmision en la caracterizacion de material dental humano |
Fecha de publicación : | 2002 |
Páginas: | 55 páginas |
Formato: | application/pdf |
Medio: | computadora |
Soporte: | recurso en línea |
Grado : | Licenciatura en Física |
Escuela o Facultad : | Facultad de Ciencias |
Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
Palabras clave : | Microscopía electrónica de barrido |
Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000308442 |
Fuente TESIUNAM: | https://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000308442 |
Aparece en las colecciones: | Tesis de licenciatura |
Texto completo:
Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
---|---|---|---|---|
000308442.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.17 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
0308442.pdf | Texto Completo | 2.34 MB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |
Este recurso está sujeto a una Licencia Creative Commons