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https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000282134| Clasificación : | 001-00347-V1-2000-1 |
| Sustentante: | Vazquez Curiel, Evangelina |
| Asesor(es) : | Tagüeña, Julia |
| Título : | Efectos de la relajacion de la superficie en las propiedades electronicas del silicio poroso |
| Fecha de publicación : | 2000 |
| Páginas: | 1 recurso en línea (II, 101 páginas) : |
| Formato: | application/pdf |
| Medio: | computadora |
| Soporte: | recurso en línea |
| Grado : | Maestría en Ciencias (Ciencia de Materiales) |
| Escuela o Facultad : | Facultad de Ciencias |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000282134 |
| Fuente TESIUNAM: | http://132.248.9.195/pd2000/282134/Index.html |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de maestría |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 000282134.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.15 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
| 282134.pdf | Texto Completo | 1.95 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
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