Use el DOI o este identificador para enlazar este recurso:
https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000849313| Sustentante: | Martínez Lara, David Eduardo |
| Asesor(es) : | Mendoza López, Doroteo |
| Colaborador(es) : | Morales Leal, Francisco, miembro del comité de grado Esquivel Sirvent, Raúl Patricio, miembro del comité de grado |
| Título : | Resonancias plasmónicas y resistividad eléctrica de metapelículas de Bi : búsqueda del grosor crítico para el confinamiento cuántico en películas delgadas |
| Fecha de publicación : | 2023 |
| Páginas: | 1 recurso en línea (145 páginas) |
| Formato: | application/pdf |
| Medio: | computadora |
| Soporte: | recurso en línea |
| Grado : | Doctorado en Ciencias e Ingeniería de Materiales |
| Escuela o Facultad : | Programa de Posgrado en Ciencia e Ingeniería de Materiales Instituto de Investigaciones en Materiales |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000849313 |
| Fuente TESIUNAM: | http://132.248.9.195/ptd2023/noviembre/0849313/Index.html |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de doctorado |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 000849313.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.85 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
| 0849313.pdf | Texto Completo | 4.47 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
Este recurso está sujeto a una Licencia Creative Commons
