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https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000836014| Sustentante: | Barrera Mendivelso, Edwin Sebastián |
| Asesor(es) : | Rodríguez Gómez, Arturo |
| Título : | Estudio de las propiedades ópticas, estructurales y microestructurales de películas delgadas de SINx crecidas a temperatura ambiente mediante pulverización catódica asistida por radiofrecuencia |
| Fecha de publicación : | 2023 |
| Páginas: | 1 recurso en línea (140 páginas) : |
| Formato: | application/pdf |
| Medio: | computadora |
| Soporte: | recurso en línea |
| Grado : | Maestría en Ciencia e Ingeniería de Materiales |
| Escuela o Facultad : | Programa de Posgrado en Ciencia e Ingeniería de Materiales Instituto de Física |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000836014 |
| Fuente TESIUNAM: | http://132.248.9.195/ptd2023/marzo/0836014/Index.html |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de maestría |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 000836014.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.62 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
| 0836014.pdf | Texto Completo | 7.1 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
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