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https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000820847| Sustentante: | Martínez Hernández, Harol David |
| Asesor(es) : | Rodríguez García, Mario Enrique |
| Título : | Correlation between the thermal, electrical, and structural properties for p-type silicon |
| Fecha de publicación : | 2021 |
| Páginas: | 1 recurso en línea (89 páginas) |
| Formato: | application/pdf |
| Medio: | computadora |
| Soporte: | recurso en línea |
| Grado : | Maestría en Ciencia e Ingeniería de Materiales |
| Escuela o Facultad : | Programa de Posgrado en Ciencia e Ingeniería de Materiales Centro de Física Aplicada y Tecnología Avanzada |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000820847 |
| Fuente TESIUNAM: | https://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000820847 |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de maestría |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 000820847.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.59 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
| 0820847.pdf | Texto Completo | 10.45 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
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