Use el DOI o este identificador para enlazar este recurso:
https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000735424| Sustentante: | Serrano Núñez, Mario Alberto |
| Asesor(es) : | Alonso Huitrón, Juan Carlos |
| Título : | Propiedades ópticas y estructura de películas delgadas de nitruro de silicio con nano cúmulos de silicio embebidos depositadas por rpecvd |
| Fecha de publicación : | 2015 |
| Páginas: | 1 recurso en línea (59 páginas) : |
| Formato: | application/pdf |
| Medio: | computadora |
| Soporte: | recurso en línea |
| Grado : | Maestría en Ciencia e Ingeniería de Materiales |
| Escuela o Facultad : | Maestría y Doctorado en Ciencia e Ingeniería de Materiales |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000735424 |
| Fuente TESIUNAM: | http://132.248.9.195/ptd2015/septiembre/0735424/Index.html |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de maestría |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 000735424.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.46 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
| 0735424.pdf | Texto Completo | 1.73 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
Este recurso está sujeto a una Licencia Creative Commons
