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https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000715070| Sustentante: | Ascencio Rojas, Luis Felipe |
| Asesor(es) : | Qureshi, Naser |
| Título : | Control de distancia para microscopio de barrido con resolución micrométrica |
| Fecha de publicación : | 2014 |
| Páginas: | 1 recurso en línea (67 páginas) : |
| Formato: | application/pdf |
| Medio: | computadora |
| Soporte: | recurso en línea |
| Grado : | Ingeniero Eléctrico Electrónico |
| Escuela o Facultad : | Facultad de Ingeniería |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000715070 |
| Fuente TESIUNAM: | http://132.248.9.195/ptd2014/junio/0715070/Index.html |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de licenciatura |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 000715070.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.28 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
| 0715070.pdf | Texto Completo | 2.91 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
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