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https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000679649| Clasificación : | 001-00388-M1-2012 |
| Sustentante: | Montiel González, Zeuz |
| Asesor(es) : | Rodil Posada, Sandra Elizabeth |
| Título : | Elipsometría aplicada al estudio de nanopartículas metálicas embebidas en una matriz semiconductora |
| Fecha de publicación : | 2012 |
| Páginas: | 1 recurso en línea (IX, 106 páginas) : |
| Formato: | application/pdf |
| Medio: | computadora |
| Soporte: | recurso en línea |
| Grado : | Doctorado en Ciencias e Ingeniería de Materiales |
| Escuela o Facultad : | Instituto de Investigaciones en Materiales |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Palabras clave : | Nanopartículas |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000679649 |
| Fuente TESIUNAM: | http://132.248.9.195/ptd2012/mayo/0679649/Index.html |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de doctorado |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 000679649.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.28 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
| 0679649_A1.pdf | Texto Completo | 5.6 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
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