1. Repositorio de Tesis DGBSDI
  2. TESIUNAM
  3. Tesis de maestría
Use el DOI o este identificador para enlazar este recurso: https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000626163
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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.advisorRodríguez García, Mario Enrique
dc.creatorGarcía Rivera, José
dc.date.created2008-04-30T00:00:00-
dc.date.issued2007
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000626163-
dc.format.extent1 recurso en línea (XI, 148 páginas)-
dc.format.mediumcomputadora
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.languagespa-
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.source.urihttps://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000626163
dc.subject.classificationCiencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías
dc.titleCaracterización térmica y termoelectrónica de obleas de silicio implantado con boro, mediante radiometría de fotoportadores
dc.typeTesis de maestría
dcterms.contributorRodríguez García, Mario Enrique::si::SinIdentificador::role::asesorTesis
dcterms.creatorGarcía Rivera, José::si::SinIdentificador
dc.degree.nameMaestría en Ciencia e Ingeniería de Materiales
dc.degree.grantorUniversidad Nacional Autónoma de México
dc.identifier.urlhttp://132.248.9.195/pd2008/0626163/Index.html
dc.format.supportrecurso en línea
dc.degree.departmentInstituto de Investigaciones en Materiales
dc.identifier.classification001-00347-G2-2007
dc.degree.levelMaestría
dc.rights.accessrightsAcceso en línea sin restricciones
dc.type.versionpublishedVersion
dc.publisher.locationMX
dc.date.modified2023-11-25T00:00:00-
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