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https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000625534| Clasificación : | 001-00347-V2-2007 |
| Sustentante: | Velázquez Hernández, Rubén |
| Asesor(es) : | Rodríguez García, Mario Enrique |
| Título : | Obtencion de imagenes termicas y termoelectronica de materiales semiconductores por medio de radiometria fototermica Infrarroja y de radiometria de fotoportadores |
| Fecha de publicación : | 2007 |
| Páginas: | 1 recurso en línea (vii, 67, [8] páginas) : |
| Formato: | application/pdf |
| Medio: | computadora |
| Soporte: | recurso en línea |
| Grado : | Maestría en Ciencia e Ingeniería de Materiales |
| Escuela o Facultad : | Instituto de Investigaciones en Materiales |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000625534 |
| Fuente TESIUNAM: | http://132.248.9.195/pd2008/0625534/Index.html |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de maestría |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 000625534.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.32 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
| 0625534.pdf | Texto Completo | 2.25 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
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