1. Repositorio de Tesis DGBSDI
  2. TESIUNAM
  3. Tesis de maestría
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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.advisorAlonso Huitrón, Juan Carlos
dc.creatorDíaz Bucio, Xochitl Monica
dc.date.issued2007
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000617430-
dc.format.extent1 recurso en línea (89 páginas) :
dc.format.mediumcomputadora
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isospa
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.source.urihttps://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000617430
dc.subject.classificationCiencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías
dc.titleAnalisis de la estructura y composicion de peliculas delgadas de SiOF mediante FTIR, XPS y RNR
dc.typeTesis de maestría
dcterms.contributorAlonso Huitrón, Juan Carlos::si::SinIdentificador::role::asesorTesis
dcterms.creatorDíaz Bucio, Xochitl Monica::si::SinIdentificador
dc.degree.nameMaestría en Ciencia e Ingeniería de Materiales
dc.degree.grantorUniversidad Nacional Autónoma de México
dc.identifier.urlhttp://132.248.9.195/pd2007/0617430/Index.html
dc.format.supportrecurso en línea
dc.degree.departmentInstituto de Investigaciones en Materiales
dc.identifier.classification001-00347-D1-2007
dc.degree.levelMaestría
dc.rights.accessrightsAcceso en línea sin restricciones
dc.type.versionpublishedVersion
dc.publisher.locationMX
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