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https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000332451| Clasificación : | 001-01158-B1-2004 |
| Sustentante: | Barragan Ocaña, Alejandro |
| Asesor(es) : | Olvera Treviño, María de los Ángeles Patricia |
| Título : | Metrologia aplicada para el aseguramiento de la calidad en metodos de ensayo |
| Fecha de publicación : | 2004 |
| Páginas: | 1 recurso en línea (195 páginas) |
| Formato: | application/pdf |
| Medio: | computadora |
| Soporte: | recurso en línea |
| Grado : | Maestría en Ingeniería de Sistemas |
| Escuela o Facultad : | Facultad de Ingeniería |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000332451 |
| Fuente TESIUNAM: | https://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000332451 |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de maestría |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 000332451.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.27 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
| 0332451.pdf | Texto Completo | 18.15 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
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