Use el DOI o este identificador para enlazar este recurso: https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000327979
Clasificación : 001-00378-G1-2004
Sustentante: García Chavarria, Sabit Karina
Asesor(es) : Álvarez Fragoso, Octavio
Título : Caracterizacion morfologica de peliculas de GaAs(N) por microscopia de fuerza atomica
Fecha de publicación : 2004
Páginas: 1 recurso en línea (69, [12] páginas)
Formato: application/pdf
Medio: computadora
Soporte: recurso en línea
Grado : Maestría en Ciencia e Ingeniería de Materiales
Escuela o Facultad : Instituto de Investigaciones en Materiales
Institución : Universidad Nacional Autónoma de México
Area del conocimiento : Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías
URI : https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000327979
Fuente TESIUNAM: https://tesiunam.dgb.unam.mx/F?current_base=TES01&func=direct&doc_number=000327979
Aparece en las colecciones: Tesis de maestría

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