Use el DOI o este identificador para enlazar este recurso:
https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000327979
Clasificación : | 001-00378-G1-2004 |
Sustentante: | García Chavarria, Sabit Karina |
Asesor(es) : | Álvarez Fragoso, Octavio |
Título : | Caracterizacion morfologica de peliculas de GaAs(N) por microscopia de fuerza atomica |
Fecha de publicación : | 2004 |
Páginas: | 1 recurso en línea (69, [12] páginas) : |
Formato: | application/pdf |
Medio: | computadora |
Soporte: | recurso en línea |
Grado : | Maestría en Ciencia e Ingeniería de Materiales |
Escuela o Facultad : | Instituto de Investigaciones en Materiales |
Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000327979 |
Fuente TESIUNAM: | http://132.248.9.195/ppt2004/0327979/Index.html |
Aparece en las colecciones: | Tesis de maestría |
Texto completo:
Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
---|---|---|---|---|
000327979.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.3 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
0327979.pdf | Texto Completo | 10.17 MB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |
Este recurso está sujeto a una Licencia Creative Commons