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https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000292624| Clasificación : | 001-00323-L2-2001-2 |
| Sustentante: | López Sanchez, Erick Javier |
| Asesor(es) : | Rickards Campbell, Jorge |
| Título : | Sensibilidad del metodo pixe excitado con He para estudiar oxidos |
| Fecha de publicación : | 2001 |
| Páginas: | 1 recurso en línea (84 páginas) : |
| Formato: | application/pdf |
| Medio: | computadora |
| Soporte: | recurso en línea |
| Grado : | Licenciatura en Física |
| Escuela o Facultad : | Facultad de Ciencias |
| Institución : | Universidad Nacional Autónoma de México |
| Area del conocimiento : | Ciencias Físico - Matemáticas y de las Ingenierías |
| URI : | https://hdl.handle.net/20.500.14330/TES01000292624 |
| Fuente TESIUNAM: | http://132.248.9.195/pd2001/292624/Index.html |
| Aparece en las colecciones: | Tesis de licenciatura |
Texto completo:
| Archivo | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| 000292624.mrc | Registro bibliográfico en formato MARC | 1.06 kB | MARC | Visualizar/Abrir |
| 292624.pdf | Texto Completo | 1.39 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
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