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0731801.pdf.jpgAutomatización de la técnica Z-Scan y su aplicación al estudio del índice de refracción no lineal y el coeficiente de absorción de tercer orden en películas de PMMA contaminadas con DR1Mercado Vásquez, José Gabriel2015
0731979.pdf.jpgPelículas de C60 funcionalizadas con aminas : síntesis, caracterización y proliferación celularSalinas González, Juan Nikandi2015
0732235.pdf.jpgPropiedades opto-electrónicas de sustratos híbridos : teflón-nanotubos de carbonoLlarena Bravo, Topacio2015
0731983.pdf.jpgModelos de confinamiento cuántico aplicados a nanocúmulos de silicio si embebidos en nitruro de silicio sinxRuedas Acosta, Alejandro2015
0731627.pdf.jpgCálculo del ancho espectral de fotones convertidos por spdc de tipo I por medio de una cámara ccd de eficiencia cuánticaDi Bella Nava, Pascual2015
0737765.pdf.jpgDeterminación con cámara de ionización de la dosis absorbida en un maniquí irradiado con rayos x de 6mv para IMRTContreras León, Samantha2015
0737855.pdf.jpgPropiedades electrónicas y estructurales de cúmulos bimetálicos aumagn, (m+n)=20 con composición 1:3 y 1:1Viladomat Jasso, Alonso Eduardo2015
0737365.pdf.jpgSíntesis, caracterización y estudio de la estructura de multigrafeno bajo el efecto de tratamientos térmicosCampos Contreras, Abraham Federico2015
0737360.pdf.jpgEstudio del sistema ba(1-x)naxti2sb2oz, con x = 0.00 - 1.00 y z = 4 y 5Juárez Juárez, Carolina Itzel2015
0737980.pdf.jpgPlasmónica : estudio sobre la estadística de emisión de nanocristales de silicio en presencia de nanopartículas metálicas : combinación de interferometría Hanbury-Brown & Twiss y microscopía confocalColín Ulloa, Erika2015

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